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恩智浦SE团队独立开发的i.MXRT配套DRAM压力测试上位机工具

作为一名占道停车的技术爱好者，我在技术交流群里常年与大家分享嵌入式知识。今天，为大家介绍一个值得关注的工具——恩智浦SE团队开发的i.MXRT DRAM Tester。

故事始于一篇发在《恩智浦MCU加油站》上的文章。这篇文章详细介绍了一个用于验证i.MXRT平台SDRAM稳定性的上位机测试工具，不过明 Commons

作者在文中没有提供下载链接，更令我管理中的测试错失。如同往常，这种等待已久且被误宣传的工具难以长久，我挺进.company对内放出了最新版(v0.2.2)，并放至CSDN供大家下载。

这个工具由恩智浦SE团队的资深工程师Gavin独立开发，他原本只是用于内部测试，因此未走传统测试发布流程，未能登上公司官网。但它为解决众多SDRAM相关问题提供了有力助力。

关于工具的使用方法，安装包内的文档已经很碾炙了。让我简单概括其工作原理：

值得注意的是，当前版本仅支持i.MXRT1050/1020/1060系列，且无后续发布计划。我已计划独立开发全新上位机测试套件MCUTestSuite，将memtester功能整合其中。新工具将摒弃对MCU主芯片特性的依赖，仅借助高级调试器（如J-Link/DAP-Link）实现核心测试功能（CoreMark、Dhrystone、memtester等），着重突出通用性与扩展性，值得期待。

这是一款实用工具，也是一份心意。针对各类芯片型号及后续展开计划，敬请关注后续进展。

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